FT/HP系列四探針測試儀探頭

FT/HP系列四探針測試儀探頭

FT系列四探針探頭

FT系列四探針探頭是采用綜合性能優異的航空工程塑料、機械結構優良彈huang片、耐磨和硬度高的探針研制的測量數據穩定、可靠、準確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術指標符合國家標準，同時符合ASTM標準有關規定；
 FT系列四探針探頭可安裝于探針測試臺也可手持探頭對樣品進行測試，如對樣品手持探頭測試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測試效率,此測試方式廣泛應用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀；與原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探針探頭可替換使用

由于采用了綜合性能優異的航空工程塑料四探針探頭有如下特點：

①尺寸穩定性好，成型收縮率小于0．3％，線膨漲系數小于3x10-6；
②機械性能優異，抗張強度高于120MPa，彎曲強度大于150MPa，彎曲模量大于12GPa；
③電性能優異，介電強度大于17kv／mm，介電系數小于4，體積電阻率在1016數量級；
④耐腐蝕，除氧化性介質外，可以耐幾乎所有的無機物質腐蝕；在200℃下，不溶于已知的所有機溶劑；
⑤低吸濕，在23℃水中經24小時浸泡后吸水率小于0．05％；
⑥阻燃性好，其氧指數大于40，為UV—94V—00／5—V級；
⑦耐高溫，長期使用溫度180℃；

技術參數

①探針間距：1±0.010mm；
②探針材料：高速鋼或碳化鎢；
③探針壓力：5～8牛頓或12～16牛頓；
④探針機械游移率：小于0.3%；
⑤探針伸出的長度：3mm；
⑥針尖錐體夾角：60°；
⑦針間絕緣電阻：大于109Ω；

HP系列四探針探頭

HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

特性及規格：

特制之手握式探筆

球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷

探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞

探頭使用壽命長

探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ